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  • 主營產品:鐵素體含量檢測儀鐵素體測試儀鐵素體測量儀鐵素體測定儀超聲波探傷儀色彩色差儀鋼筋掃描儀X射線測厚儀紫外線燈高溫耦合劑
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    X射線測厚儀

    ]資料
    如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: X射線測厚儀
    產品型號: FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210
    產品展商: 德國菲希爾fischer
    關注指數:14999
    產品文檔: 無相關文檔

    簡單介紹
    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL-210是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。

    X射線測厚儀的詳細介紹

    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本

    參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析

    和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。


    XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

    XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

    X
    射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有:

    ? 測量大規模生產的電鍍部件

    ? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

    ? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

    ? 全自動測量,如測量印刷線路板

    ? 分析電鍍溶液

    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設計理念

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣

    品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際

    應用的需求。

    XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統

    高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精-確定位測量位置。通過視頻

    窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了

    激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。

    測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。

    例如大型的線路板。

    所有的操作,測量數據的計算,以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友

    好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。

    XDL 型光譜儀是安-全而保護**的測量儀器,型式許可符合德國“Deutsche

    R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。

    X
    射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210通用規范

    用途

    能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構,分析合金和微量組分。

    元素范圍 多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素

    設計理念 臺式儀器,測量門向上開啟

    測量方向 從上到下

    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210X 射線源

    X 射線源 帶鈹窗口的鎢管

    高壓 三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調整

    孔徑(準直器) ? 0.3 mm (可選:圓形? 0.1 mm; ? 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)

    測量點

    取決于測量距離及使用 的準直器大小;實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。

    小的測量點大小約? 0.16mm.

    測量距離,如測量腔體內部

    0 ~ 80 mm,未校準范圍,使用保護的DCM 功能

    0 ~ 20 mm,已校準范圍, 使用保護的DCM 功能

    X 射線探測

    X 射線接收器 比例接收器

    樣品定位

    視頻顯微鏡

    高分辨 CCD 彩色攝像頭, 用于查看測量位置

    手動調焦或自動聚焦

    十字線刻度和測量點大小經過校準

    測量區域照明亮度可調

    激光點用于精-確定位樣品

    放大倍數 20x ~ 180x (光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

    樣品臺 XDL 210

    設計 固定式樣品平臺

    -大移動范圍 -

    X/Y 平臺移動速度 -

    X/Y 平臺移動重復精度 -

    Z 軸移動范圍 -

    可用樣品放置區域 463 x 500 mm

    樣品-大重量 20 kg

    樣品-大高度 155/90/25 mm

    激光定位點 -

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL

    鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試


    電氣參數

    電壓,頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz

    功率 -大 120 W (不包括計算機)

    保護等級 IP40


    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210儀器規格

    外部尺寸 寬x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650

    重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg ;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg

    內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度”部分的說明)

    環境要求

    操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

    儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

    空氣濕度 ≤ 95 %,無結露


    計算系統

    計算機 帶擴展卡的計算機系統

    軟件

    標準: WinFTM® V.6 LIGHT

    可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER


    X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210執行標準,CE 合格標準 EN 61010

    X 射線標準 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568


    型式許可

    -全而保護**的測量儀器,型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”

    法規規定。

    如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號。

     

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